由天津市科学技术委员会、天津新技术产业园区管委会、天津市外国专家局共同主办的“2009’第二届（天津）国际软件测试大会”（TIST2009）将于2009年4月23日-24日在天津拉开帷幕，本次大会将在2008年第一届大会基础上，继续就有关软件测试行业的热门话题，以及新技术等进行国际间的交流于沟通。我们诚邀上届大会评选出的优秀讲师继续对评选出的热门议题进行更深入的探讨，同时聘请国际更权威知名的专家顾问对未来软件测试技术的应用和发展进行精彩的演讲。国内外众多软件企业和相关机构将与享誉国内外的知名专家分享最新的软件测试技术发展趋势，大会开设的主题演讲、专题报告和互动讨论会内容广泛、全面，同时针对关注热点进行深入的探讨，为业界呈现一场精彩的技术盛筵。
大会详情请浏览TIST2009官方网站：www.tstc.org.cn 往届大会回顾
